LGA
- 商品
- LGA
製品の紹介
LGAのフルネームはLand Grid Arrayで、直訳するとグリッドアレイパッケージです。主に、従來(lái)の針狀ピンの代わりに金屬接點(diǎn)式パッケージを用いたことにある。
製品の特徴
LGAのパッケージ技術(shù)は點(diǎn)接觸技術(shù)(接點(diǎn))を採(cǎi)用しており、主に金屬接點(diǎn)式パッケージ技術(shù)(LGA)を過(guò)去の針狀ピン式パッケージ技術(shù)に置き換えたことにある。このパッケージはリードレスパッド設(shè)計(jì)のために占有するPCB面積をより小さくし、採(cǎi)用された基板內(nèi)部回路はカスタム設(shè)計(jì)ができ、パッケージ內(nèi)部の溶接線の難易度を大幅に下げることができ、複雑な多機(jī)能チップ設(shè)計(jì)のために便利なカスタマイズ化の方案を提供した。
応用
LGAは成熟した業(yè)界パッケージ標(biāo)準(zhǔn)であり、プロセッサ、論理、メモリによく使われ、ウェアラブル、3 Cデジタル、醫(yī)療用機(jī)器電子、セキュリティチップなどの分野に応用されている。
工蕓の特徴
JEDEC規(guī)格を參照するか、達(dá)成してください。
異なる顧客ニーズに対応するために、リードフレーム設(shè)計(jì)とマルチ仕様パッドサイズをカスタマイズします。
グリーン製造、無(wú)鉛工。
信頼性テスト基準(zhǔn)
試験基準(zhǔn)は77サンプルセル中のゼロ欠陥である
JEDEC前提條件:J-STD-20/JESD 22-A 113
溫度/濕度試験:85°C/85%相対濕度、JEDEC 22-A 101
高圧爐試験:121°C/100%相対濕度/15 PSIG、JEDEC 22-A 102
溫度サイクル試験:-65 ~ 150℃、JEDEC 22-A 104
高溫保存試験:150°C、JEDEC 22-A 103
高加速?gòu)炅υ囼Y:130°C/85% 相対濕度/33.5 PSIA、JEDEC 22-A 110/A 118
封裝類(lèi)型 | 腳數(shù) | 塑封體寬 (E)mm | 塑封體長(zhǎng) (D)mm | 塑封體厚 (A2)mm | 站高 (A1)mm | 總高 (mm) | 腳間距 (e)mm | 腳寬 ( b)mm | 腳長(zhǎng) ( L)mm |
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
LGA | 6L | 2 | 4 | 0.4 | - | 0.6 | 0.5 | 0.3 | 0.2 |
LGA | 8L | 1.5 | 4 | 0.4 | - | 0.6 | 0.5 | 0.3 | 0.2 |
LGA | 16L | 5 | 5 | 1.05 | - | 1.31 | 0.65 | 0.25 | 0.2 |
LGA | 24L | 3.5 | 6 | 1.05 | - | 1.31 | 0.35 | 0.18 | 0.2 |
LGA | 56L | 6 | 9 | 1.05 | - | 1.31 | 0.5 | 0.25 | 0.26 |